可定制晶圆缺陷检查 (Wafer Defect Inspection) 自动化软件

显微镜目视检查(Micro Inspection) 不必是费力的工作, 我們借助高达6000倍分辨率的基恩士Keyence VHX系列显微镜,品管人員可以轻松地从遠端监视器检查晶圆工藝品質

一机可传输6吋〜12吋多尺寸及多类型晶圆

自动加载/依品质分装晶圆

配方驱动或手动操作

配方驱动或手动操作

可记载并比对缺陷晶圆图 (Defect Map)

可加选宏观目视检查和倾斜显微镜做三维检测

 

晶圆网格图 (G85/TSK)

自定义检测码

自动/手动检测切换菜单

检测报告

导出检测结果到文件 (G85/TSK)

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